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KA Imaging X射線(xiàn)產(chǎn)品

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南京覃思科技有限公司

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【新品發(fā)布】InCiTe 2.0立式Micro CT

  • 分類(lèi):新聞中心
  • 作者:Tansi
  • 來(lái)源:
  • 發(fā)布時(shí)間:2024-12-17 17:17
  • 訪(fǎng)問(wèn)量:

【概要描述】 加拿大KA Imaging公司近期研發(fā)推出的inCiTe 2.0立式3D X射線(xiàn)顯微鏡(Micro CT)是一款先進(jìn)的微型計算機斷層掃描系統,專(zhuān)為科研和工業(yè)應用而設計,能夠提供高分辨率、高細節的非破壞性檢測成像。該設備具有兩種X射線(xiàn)探測器選項:BrillianSe直接轉換探測器或Reveal平板探測器,采用可更換的模塊化設計,實(shí)現創(chuàng )新的相位對比成像或光譜成像功能。 特點(diǎn)和應用 1. 相襯成像: 適用于低密度材料或細微結構差異的檢測,例如聚合物或生物組織。 提高了傳統X射線(xiàn)技術(shù)難以捕捉的細節可見(jiàn)度。 2. 光譜成像: 支持單次掃描實(shí)現多種材料的區分,大幅提升效率和材料分析的精確度。 適用于需要高靈敏度的多材料檢測場(chǎng)景。 3. 適用領(lǐng)域: 工業(yè)中的材料分析和組件檢測(例如航空航天、建筑與安防領(lǐng)域)。 科研中用于更精細的結構研究和復雜樣品的無(wú)損分析。 其它優(yōu)勢 1. 與傳統X射線(xiàn)或掃描電子顯微鏡(SEM)系統相比,能夠更好地展示精細特征,同時(shí)確保材料的完整性。 2. 支持雙能X射線(xiàn)成像功能,一次掃描可獲取三張圖像,無(wú)運動(dòng)偽影,大大提高了生產(chǎn)力和分析效率。 inCiTe 2.0系統具有雙探測器的兼容設計和用戶(hù)友好的操作界面,必將成為學(xué)術(shù)和工業(yè)領(lǐng)域的理想解決方案。

【新品發(fā)布】InCiTe 2.0立式Micro CT

【概要描述】







加拿大KA Imaging公司近期研發(fā)推出的inCiTe 2.0立式3D X射線(xiàn)顯微鏡(Micro CT)是一款先進(jìn)的微型計算機斷層掃描系統,專(zhuān)為科研和工業(yè)應用而設計,能夠提供高分辨率、高細節的非破壞性檢測成像。該設備具有兩種X射線(xiàn)探測器選項:BrillianSe直接轉換探測器或Reveal平板探測器,采用可更換的模塊化設計,實(shí)現創(chuàng )新的相位對比成像或光譜成像功能。











特點(diǎn)和應用

1. 相襯成像:

適用于低密度材料或細微結構差異的檢測,例如聚合物或生物組織。

提高了傳統X射線(xiàn)技術(shù)難以捕捉的細節可見(jiàn)度。

2. 光譜成像:

支持單次掃描實(shí)現多種材料的區分,大幅提升效率和材料分析的精確度。

適用于需要高靈敏度的多材料檢測場(chǎng)景。

3. 適用領(lǐng)域:

工業(yè)中的材料分析和組件檢測(例如航空航天、建筑與安防領(lǐng)域)。

科研中用于更精細的結構研究和復雜樣品的無(wú)損分析。

其它優(yōu)勢

1. 與傳統X射線(xiàn)或掃描電子顯微鏡(SEM)系統相比,能夠更好地展示精細特征,同時(shí)確保材料的完整性。

2. 支持雙能X射線(xiàn)成像功能,一次掃描可獲取三張圖像,無(wú)運動(dòng)偽影,大大提高了生產(chǎn)力和分析效率。









inCiTe 2.0系統具有雙探測器的兼容設計和用戶(hù)友好的操作界面,必將成為學(xué)術(shù)和工業(yè)領(lǐng)域的理想解決方案。




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  • 作者:Tansi
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  • 發(fā)布時(shí)間:2024-12-17 17:17
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詳情

加拿大KA Imaging公司近期研發(fā)推出的inCiTe 2.0立式3D X射線(xiàn)顯微鏡(Micro CT)是一款先進(jìn)的微型計算機斷層掃描系統,專(zhuān)為科研和工業(yè)應用而設計,能夠提供高分辨率、高細節的非破壞性檢測成像。該設備具有兩種X射線(xiàn)探測器選項:BrillianSe直接轉換探測器或Reveal平板探測器,采用可更換的模塊化設計,實(shí)現創(chuàng )新的相位對比成像或光譜成像功能。

特點(diǎn)和應用

1. 相襯成像:

適用于低密度材料或細微結構差異的檢測,例如聚合物或生物組織。

提高了傳統X射線(xiàn)技術(shù)難以捕捉的細節可見(jiàn)度。

2. 光譜成像:

支持單次掃描實(shí)現多種材料的區分,大幅提升效率和材料分析的精確度。

適用于需要高靈敏度的多材料檢測場(chǎng)景。

3. 適用領(lǐng)域:

工業(yè)中的材料分析和組件檢測(例如航空航天、建筑與安防領(lǐng)域)。

科研中用于更精細的結構研究和復雜樣品的無(wú)損分析。

其它優(yōu)勢

1. 與傳統X射線(xiàn)或掃描電子顯微鏡(SEM)系統相比,能夠更好地展示精細特征,同時(shí)確保材料的完整性。

2. 支持雙能X射線(xiàn)成像功能,一次掃描可獲取三張圖像,無(wú)運動(dòng)偽影,大大提高了生產(chǎn)力和分析效率。

inCiTe 2.0系統具有雙探測器的兼容設計和用戶(hù)友好的操作界面,必將成為學(xué)術(shù)和工業(yè)領(lǐng)域的理想解決方案。

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